X射线粉末衍射仪162万

X射线粉末衍射仪预算162万 是 否 采 序 设 规格 单 数 用 号 备 位 量 进 口 设 备 一. 用途 仪器采用当前先进的技术，能够精确地对文物样品进行物相检索分 析，物相定量分析；按照不同应用要求快速进行光学最优配置，光 学附件的更换无需重新校准。 二. 主要技术指标 1. X射线光源 1.1. X射线发生器部分 1.1.1最大输出功率N3kW 1.1.2额定电压2s60kV 1.1.3额定电流N50mA 1.2 X射线光管部分 1.2.1 X射线光管 Cu靶，金属陶瓷X光管，★更换X光管无需重新校准 1.2.2 点线焦斑W0. 4 x 12 mm X射 1.3电流电压稳定度优于0.005 （外电压波动10）时 线 1.4 X射线防护安全连锁机构、剂量符合国标;防护罩外任何一点的 1 衍 计量小于0. 2|iSv/h 台 1 是 射 1.5质保期2年 仪 2, 测角仪部分 2.1测角仪采用光学编码器技术与直流马达定位 2.2角度重现性0.0001 2.3 2 0扫描角度-20-2007-10-168 2.4测角仪半径185 mm可连续改变至285mm. 3, 探测器部分 3.1阵列探测器 3.2计数阵列N256道 3.3 动态范围2x109cps 3.4能量分辨率520 3.5探测器物理分辨率N60|im 4, 光路部分 4.1所有光学附件均采用模块化设计，如增加多种附件，用户可自 行随意切换。 5样品台 标准样品台，包括40个铝质样品架，80个玻璃样品架。无反射样 品架，对微量样品有很好的解析作用，没有背底峰的影响。 6. 微区附件 针对不规则和特别小的样品，或者测量样品中某个很小的部分，汇 聚在样品上的焦斑＜300u m,配备CCD系统，能观测分析部位. 6.1配备多功能样品台，XYZ可调，能满足超大样品（N5 0 Omm）、 不规则样品的分析要求 6.2配备激光定位系统 7. 薄膜附件，满足薄膜物相和薄膜厚度测量 8. 仪器控制和数据采集系统 8.1计算机CPU主频23.6GHz,四核八线程，2 2 nm工艺,4G 内存，硬盘1TB, 24寸LCD显示器，独立显卡，显存容量1GB, DVD-CDRW可擦写光驱，配置打印机 8.2仪器控制和数据采集软件 9. 应用软件要求提供以下应用分析软件 9.1物相检索软件含原始数据直接检索功能 支持进行下列图形处理方式峰形拟合功能；合并、加减、移位任 何数量的扫描数据；三种背景确定/扣除方式;快速傅立叶变换或平 滑多项式平滑处理，支持多数据自动背景处理。 全谱自动分峰拟合，支持多数据自动分析 扫描校正样品位移，温度或压力影响，步长内插；可以自动进行 或手动进行。 对原始数据进行自动物相鉴定及打印结果报告，RIR参考强度法直 接给出半定量结果；3维图形显示功能。 文献中数据可直接转化为标准数据，可以进行检索。 9.2免费提供含单晶的10万种以上数据库 10. 循环水冷系统满足相应系统连续满功率运行 11. 提供有关的全套技术文件（中文操作手册） 12. 工作条件 12.1 电力供应单相 22OV （10）, 50Hz 12.2工作温度10。（-40宅 12.3相对湿度W75 12.4仪器运行的持久性能够满足长时间连续工作 12.5配置稳压电源 13. 仪器及生产商必须满足的相关国际安全标准 13.1 质量标准IS09001认证JSO 14001认证 14. 台式能谱仪1台，要求银靶/Rh靶，硅漂移探测器，内置无 标定量标准曲线，能进行从Na -U无损元素分析。分析元素的浓度 范围ppm -100,端窗发射技术，功率0-50W,冷却系统风冷， 计算机分析系统笔记本电脑CPU主频2. 5GHz,四核八线程， 2 2nm工艺，8G内存，硬盘1Tb, N1. 5寸LCD显示器，独立显卡， 显存容量2GB, A4激光打印机，基本参数法，半无标样法，强度曲 线等多种分析方法. 三、技术服务 1. 设备安装、调试和验收 （1）卖方应在合同生效2个月内到用户实验室现场提供详细的安装 要求和提供技术咨询； （2）仪器到达用户所在地后，在接到用户通知后1周内进行安装调 试，直至通过验收，仪器安装调试要在21工作日内完成。 （3）仪器安装时产生的相关费用由卖方负责。 2. 技术培训 必须提供2人完善的培训，包括在供应方应用中心培训，现场 培训，直到用户能独立操作仪器，并满足分析要求为止。 3. 保修 卖方提供整机3年质保，X光管2年保修，保修期自仪器验收 签字之日起计算。保修期外卖方提供4次免费上门服务。 4. 维修响应时间 8小时以内响应，4至48小时内到现场